SunScan蕨(jue)类植物冠层研(yan)(yan)究(jiu)分(fen)折器(qi)材(cai)是一个(ge)种应用外源性检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)的(de)(de)法观(guan)察(cha)叶大小平均(jun)值(zhi)（LAI）的(de)(de)器(qi)材(cai)，完成(cheng)给定(ding)产生(sheng)地(di)貌(mao)代数(shu)特征英文(wen)的(de)(de)椭球体叶倾斜规划技(ji)术基本参数(shu)指(zhi)标（ELADP），检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)的(de)(de)电子散(san)射率(lv)可以获得LAI。于2005、06年在甘肃省(sheng)嫩江县鹤山猪(zhu)场布设玉米(mi)校正地(di)，完成(cheng)比LI-3100叶大小仪会直(zhi)接检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)的(de)(de)的(de)(de)LAI和SunScan冠层研(yan)(yan)究(jiu)分(fen)折器(qi)材(cai)外源性检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)的(de)(de)的(de)(de)LAI，求(qiu)得ELADP率(lv)定(ding)后(hou)果(guo)，并效(xiao)验(yan)了SunScan冠层研(yan)(yan)究(jiu)分(fen)折器(qi)材(cai)检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)的(de)(de)LAI的(de)(de)精密度(du)。后(hou)果(guo)反映：用SunScan检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)的(de)(de)玉米(mi)冠层LAI时，ELADP取数(shu)值(zhi)4．0；控制(zhi)在该(gai)技(ji)术基本参数(shu)指(zhi)标后(hou𝓡)，SunScan检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)的(de)(de)的(de)(de)LAI与LI-3100检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)的(de)(de)后(hou)果(guo)统一，俩者曲线拟合的(de)(de)线型蜕变方程式(shi)差异性；随出现季叶大小的(de)(de)转(zhuan)变规律，SunScan检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)的(de)(de)精度(du)些许转(zhuan)变规律；下(xia)种后(hou)50～85d，Sun—Scan观(guan)察(cha)值(zhi)略低7．2％，下(xia)种96d后(hou)期观(guan)察ꦯ(cha)值(zhi)较(jiao)为增高12．5％，下(xia)种后(hou)85～96d与LI-3100观(guan)察(cha)值(zhi)比较(jiao)近乎，精度(du)仅(jin)仅(jin)2．0％；通过(guo)技(ji)术基本参数(shu)指(zhi)标率(lv)定(ding)后(hou)的(de)(de)SunScan检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)的(de)(de)LAI治(zhi)疗效(xiao)果(guo)较(jiao)高。